如何扩展Keithley4200 SCS KITE软件功能？

Keithley4200是美国吉时利公司推出的一款功能强大的半导体特性分析系统，其内置的KITE测量软件基本涵盖了半导体材料的相关测试功能。

但对于客户的某些特殊测试需求，KITE存在着二次开发比较困难，对开发人员专业性要求比较高的特点，使广大科研工作者无法进一步扩展相关功能。

广州市美达克数据科技有限公司根据广大科研用户的需求，结合实际案例，推出Keithley4200扩展测量软件，目前已经在客户的系统中投入运行，并获得良好的测量效果。

• 支持恒流，恒压输出测量，实时绘制I-T、V-T曲线，可设置测量间隔，测量时间，不限制测量点数。

• 用户可自定义多段恒流、恒压连续输出，每个源输出段可定义不同的输出电流、电压值,采样间隔及源施加时间。

• 支持电流、电压自定义扫描，可自定义连续多段扫描ke，轻松实现单向（均匀、不均匀步长）、双向、磁滞回线及用户特殊定制扫描序列。

• 自动循环扫描，可不间断进行重复扫描。

• 5.三端器件维持、转移及输出曲线扫描测量，自定义多段扫描，可重复扫描。

• 采用项目式管理方式，多个测试功能可定制序列执行，全自动完成测试。

• 数据实时保存，测试过程中可防止数据丢失。

• 实时绘制测量曲线，可设置测量数据显示模式（原值、对数、反值、绝对值）。

• 全中文界面，支持WinXP，Win7、Win8、Win10操作系统。

• 可安装在Keithley4200上运行，也可使用单独的计算机控制Keithley4200进行测量。

• 如用户需要外接其它测量设备集成，可根据用户需求扩展开发集成系统。