美国吉时利keithley半导体器件实验介绍

　　ACS 基础版能让工程专业学生在学习基础电子器件过程中获得zui好的学习效果并且帮助研究生加快下一代半导体或纳米级器件的特性分析研究。当配合一台或多台2600A 系列数字源表使用时，ACS 基础版成为一款强大但简单易用的元件特性分析和曲线追踪工具。它具有全面的参数分析套件，因此能快捷地提供理解基本电子器件如何工作或者理解新型器件或材料气的电特性所需的测试结果。

　　当您需要快速获取电子器件或封装产品的某些数据时，为 ACS 基础版开发并基于向导的用户接口能像常见的 FET 曲线跟踪测试那样容易地查找和运行您需要的测试。与传统模拟曲线跟踪软件非常类似，ACS 基础版能快速产生电子器件或封装产品的一系列曲线，而且能灵活、容易地对结果进行保存、比较和关联。

　　主要特性和优点：

　　首次测量时间短 – 安装简单、直观的测试选择向导并且内建测试；

　　无需编写代码 - ACS 具有直观的 GUI 能快速简化 I-V 测试、分析和结果；

　　优化器件测试、验证和分析应用；

　　硬件灵活性 – 动态地加入或移除设备以满足独立测试的需要；

　　预装应用库 – 一组极丰富的超快、易于访问的测试库；

　　模块化的灵活软件架构便于扩展系统并使系统应用能满足zui新的测试需要；

　　免费可选后台软件许可，能容易地在另一台PC上开发新的测试序列，无需挂起正在执行工作的系统。

　　测试方案

　　半导体器件实验室的核心是参数分析仪。简单易用的 Model 4200-SCS半导体特性分析系统能进行实验室级的直流和脉冲器件特性分析、实时绘制以及高精密和亚飞安分辨率的分析。4200-SCS 结合了 4200-CVU 的集成选件，现能让半导体测试用户灵活地创建集成了 DC、脉冲和 C-V 测试功能的方案，所有功能都囊括在节省空间的机壳中和集成的测试环境中。

　　为了简单、快速地测量二极管、晶体管、运放等有源器件和zui新的半导体器件结构，吉时利的 2400 系列 SourceMeter?仪器和 2600 系列数字源表在一台仪器中集成了精密电源、真电流源和 DMM 等多种测试功能。2600 系列还包含任意波形发生器、带测量功能的电压或电流脉冲发生器、电子负载和触发控制器。

　　当设计和试验低电阻、低功耗半导体器时，管理电源对于防止器件损坏而言至关重要。分析现代材料、半导体和纳米电子元件的电阻需要输出极低电流和测量极低电压的能力。吉时利的 delta 模式 （电流反转极性） 电阻测量功能结合了 6220 或 6221 的低电流 DC 源能力以及2182A 的低压测量精度，从而非常适合于低阻测量 （低至 10 nΩ） 适于分析导通电阻参数、互连和低功率半导体。

　　可免费下载的 LabTracer? 2.0 软件允许用户快速、简单地配置和控制多达8条2600系列或2400系列源表的通道用于曲线追踪或器件特性分析。它具有简单的图形用户接口用于设置、控制、数据采集和绘制数字源表的 DUT 数据。当LabTracer与数字源表结合使用时，就能为实验室的用户提供强大、易用和经济的机箱方案。3400 系列脉冲/码型发生器具有码型发生和全面控制脉冲幅度、上升时间、下降时间、宽度和占空比等各种脉冲参数能力，因而非常适合纳米电子研究人员、半导体器件研究人员、射频器件设计工程师和教育工作者等用户的需要。

　　常用产品

　　美国吉时利keithley4200半导体特性分析系统

　　美国吉时利keithley4200-SCS型半导体特性分析系统

　　美国吉时利keithley4200-CVU型集成C-V选件用于4200-SCS

　　美国吉时利keithley4200- PIV-A型脉冲C-V选件用于4200-SCS

　　数字源表

　　美国吉时利keithley2400型通用数字源表

　　美国吉时利keithley2410型高压源表

　　美国吉时利keithley2420型3A源表

　　美国吉时利keithley2425型高功率源表

　　美国吉时利keithley2430型脉冲源表

　　美国吉时利keithley2440型5A 源表

　　美国吉时利keithley2601型高吞吐量源表

　　美国吉时利keithley2602型双通道高吞吐量源表

　　美国吉时利keithley2611型高压和脉冲输出源表

　　美国吉时利keithley2612型双通道高压和脉冲输出源表

　　美国吉时利keithley2635型低电流和脉冲输出源表

　　美国吉时利keithley2636型双通道低电流和脉冲输出源表