使用吉时利2602B数字源表的优势是什么

　　什么是Keithley吉时利2602B数字源表?使用吉时利2602B数字源表的优势是什么?接下来一起看看吧!!!

　　Keithley吉时利2602B数字源表

　　作为2600B系列源表SMU系列产品的一部分，2602B源表SMU是全新改良版双通道SMU，具有紧密集成的4象限设计，能同步源和测量电压/电流以提高研发到自动生产测试等应用的生产率。除保留了2602A的全部产品特点外，2602B还具有6位半分辨率、USB 2.0连接性以及能轻松移植遗留测试代码的2400源表SMU软件指令仿真。2602B配备了吉时利的高速TSP®技术(比传统PC至仪器的通信技术快200%)，这极大提高了系统级速度，降低了测试成本。

　　使用吉时利2602B数字源表的优势

　　测量功能

　　- 双通道型号支持80W输出功率(40W/通道)

　　- 4象限源/测量具有6位半分辨率

　　- 电流最大值/最小值：3A直流、10A脉冲/100fA

　　- 电压最大值/最小值：40V/100nV

　　一般特性

　　- 内建“即插即用”基于Java的I-V特性分析和测试软件

　　- TSP®(测试脚本处理)技术在测量仪器内嵌入了完整测试程序

　　- TSP-Link®扩展技术面向多通道并行测试

　　- 软件仿真基于吉时利2400源表SMU

　　- 大屏幕、易于阅读、双行显示

　　Keithley吉时利2602B数字源表应用

　　正向电压测试

　　正向电压由多子电流流动形成，因而是半导体材料和结温的函数。

　　正向电压测试可以在激光二极管和背光探测器上进行，用以确定半导体结的正向操作电压。一般地，2602型源表用以提供足够小的源电流(以防器件损伤)，然后测量半导体结上的电压。鉴于探测器所用的半导体材料的温度系数一般为2mV/℃，半导体结的温度必须事前获知或进行控制。

　　反向击穿电压测试

　　随着反向偏压增加，少子穿过半导体结的速度增加。在一定的反向偏压下，载流子所携带的能量足以通过碰撞引起电离作用。这时的反向偏压称为反向击穿电压。通过很好的控制反向击穿电压下的电流，可以避免半导体结被毁坏。

　　反向击穿电压测试可以在激光二极管和背光探测器上进行。无损反向击穿电压测试可以通过提供-10μA源电流并测量相应的半导体结电压实现。2602源表是这一测量的理想选择。

　　漏电流测试

　　反偏的半导体结(略低于击穿电压的偏置电压下)会出现由少子渡过耗尽区产生的漏电流。漏电流的大小由电子电荷、掺杂浓度、半导体结面积和温度决定。激光二极管和背光探测器的漏电流测试由2602源表系统进行。一般，在半导体结上施加反向击穿电压的80%，然后测量相应的漏电流。

　　对于光电二极管，这项测试同时可用于暗电流测量。将激光二极管的偏置电压设置到零，通过在半导体结上施加一个电压偏置并测量流过的电流，可得到暗电流的值。在这项测量中，关键在于确保杂散光子不会碰撞到激光二极管或背光探测器上。