型号2657A最适合于高电压测试应用

　　如功率半导体元件测试，包括二极体、场效电晶体和IGBT，以及如氮化镓（GaN）、碳化硅（SiC）和其他化合物半导体材料和元件等新材料的特性分析。它同时也对各种电子元件进行高达3000 V的高速瞬态特性分析和崩溃电压与漏电流测试相当有帮助。

　　如2600A系列其他产品一样，型号2657A提供高度灵活性、四象限电压和电流源/负载，以及精确的电压和电流电錶。它结合了多种仪器功能于单一机台：包含半导体特性分析仪、精密电源、真电流源、六位半数位多功能电錶、任意波形产生器、电压或电流脉衝产生器、电子负载、触发控制器，以及透过吉时利的TSP-Link®技术可完全扩展成一个多通道、紧密同步的系统。不同于友商功率受限之解决方案，型号2657A可以输出或涉及高达180瓦直流功率（±3000V@ 20mA，±1500V@120mA）。型号2657A还提供1fA解析度，允许它在输出高达3000V运作下，也能进行快速、準确的sub-picoamp等级测量。

　　型号2657A提供数位或积分量测模式进行暂态和稳态行为特性分析，包括快速变化的热效应。每种模式是透过两个独立的类比数位（A/D）转换器来定义—其中一个为电流量测，另一个为电压量测—两者同步运行，以确保在不牺牲测试产能下能準确的读回电源输出。数位量测模式的18位元A/D转换器能达到每微秒取一个样本点，如此使用者可以同步捕捉电压和电流瞬态变化。对照之下，友商的解决方案通常必须将多个读数平均，以产生一个结果，导致他们的速度不足以进行暂态行为特性分析。建立于22位元A/D转换器和所有的2600A系列仪器相同的基础积分量测模式，使型号2657A最适用于需要最高量测準确度和解析度的应用操作。这让新一代功率半导体元件的极低电流和高电压维持精确量测。

　　透过吉时利LXI型I-V测试软体TSP Express，在无需安装软体下即可进行元件的基本特性分析。使用者将PC连接到LXI LAN端口，并经由任何支援Java的网路浏览器，即可连结TSP Express。测试结果以图形或表格方式呈现，然后输出为电子表单应用所使用的.csv档案。型号2657A另外提供两测试程序建立工具：测试脚本产生器应用软体 （TSB：用于建立、修改、除错、执行，和TSP脚本的管理） 和 IVI型的LabVIEW®驱动程式 （简化了型号2657A编入LabVIEW测试程序的整合）。TSP测试脚本产生器应用软体增加新的除错功能，让测试程序的开发更加容易和更具效率。

　　ACS基础版软体也可作为元件特性分析工具的选项之一。最新版本提供一套丰富的功能以进行高电压和高电流元件特性分析，而内含的量测程式库已更新，可支援高压型2657A和大电流型2651A高功率系统电源电錶仪器的直流和脉衝模式运作。这些程式库足以解决各种功率元件，包括场效电晶体、双极电晶体、二极体和IGBT等大部分元件的输入、输出和转移特性测试。特殊的「追踪模式」可藉由一个简单的滑桿来即时控制仪器的电压或电流输出。

　　型号2657A可经由标準安全高压（SHV）同轴电缆连接到系统内其他仪器设备，相容于现有高压测试应用。然而，为因应一些极需要仪器低电流量测性能的应用，吉时利也提供特殊的高压叁轴 （防漏电） 的连接以最佳化型号2657A的量测準确性。

　　新的选项型号8010高功率元件测试设备提供封装型高功率元件高达3000V或100A测试的连接，能更安全、简单地建构一个包含高压型2657A、一至二台大电流型2651A仪器，以及多达叁台低功率SMU仪器 （其他2600A系列仪器或型号4200-SCS半导体特性分析仪） 的元件测试系统。除了标準的香蕉跳接线，型号8010后面板也有示波器和热探针端口以简化未来DUT特性分析的系统整合。型号8010具有完整的安全联锁功能。为防止元件发生故障时，造成仪器的损坏，型号8010的整合保护电路提供低电压系列2600A仪器的输入与型号2657A高电压输出之间的防护。另外也提供各式防护模组来简化多个SMU安全连接到其他厂商的探针台、元件载具或其他测试设备。