数字源表两种测量模式

    两种测量模式：数字化或积分

    2651A型可选择数字化或积分测量模式，用于对瞬态和稳态行为进行精密特性分析。两个独立的模/数(A/D)转换器定义每种模式——一个用于电流，另一个用于电压，可同时用于精密电源读回，不会影响测试效率。

    数字化测量模式的18位A/D转换器能够以1微秒每点进行连续采样，每秒可捕获多达100万个读数，使其成为波形捕获及高精度测量瞬态特征的最佳选择。而竞争方案必须通过对多个读数进行平均来产生一次测量结果，并且往往不能测量瞬态行为。

    积分测量模式基于22位A/D转换器，优化了仪器在需要最高可能测量准确度和分辨率应用中的工作性能。这样可确保精密测量新一代器件中的极小电流和电压。全部2600A系列仪器均具有积分测量工作模式。

    宽动态范围适用于更宽范围的应用

    通过TSP-Link并联两个2651A单元，可将系统的电流量程从50A提高至100A。这比最接近的竞争方案高两倍半至五倍。两个单元串联时，电压量程可从40V提高至80V。全部2600A系列仪器中的嵌入式测试脚本处理器(TSP®)使用户能够将多个单元作为单台仪器进行寻址，使其一致动作，从而简化测试。2651A型的内置触发控制器能够以500纳秒同步所有链接通道的工作。2651A型的这些功能提供了业内可用的最宽动态范围，使其非常适合于各种大电流、大功率测试应用，包括：

    •功率半导体、HBLED和光器件特性分析和测试

    •GaN、SiC及其他复合材料和器件的特性分析

    •半导体结温特性分析

    •可靠性试验

    •高速、高精度数字化

    •电迁移研究

    高速脉冲防止测试期间器件自热

    为了将器件在测试期间的自热（这也是大功率半导体和材料的普遍问题）降至最小，2651A型提供了高速脉冲功能，使用户能够以高准确度源出和测量脉冲。脉宽从100μs至DC、占空比从1%至100%可编程。而竞争方案通常受限于仪器占空比编程灵活性。