广州市美达克数据科技有限公司
仪器事业部:020-83709568 83802175
电话:400-677-0887、18928764315
传真:020-83709252
邮箱:mitek@21cn.com
地址:广州市荔湾区东漖北路436号607房
宽动态范围适用于更宽范围的应用
通过TSP-Link并联两个2651A单元,可将系统的电流量程从50A提高至100A。这比最接近的竞争方案高两倍半至五倍。两个单元串联时,电压量程可从40V提高至80V。全部2600A系列仪器中的嵌入式测试脚本处理器(TSP®)使用户能够将多个单元作为单台仪器进行寻址,使其一致动作,从而简化测试。2651A型的内置触发控制器能够以500纳秒同步所有链接通道的工作。2651A型的这些功能提供了业内可用的最宽动态范围,使其非常适合于各种大电流、大功率测试应用,包括:
•功率半导体、HBLED和光器件特性分析和测试
•GaN、SiC及其他复合材料和器件的特性分析
•半导体结温特性分析
•可靠性试验
•高速、高精度数字化
•电迁移研究
高速脉冲防止测试期间器件自热
为了将器件在测试期间的自热(这也是大功率半导体和材料的普遍问题)降至最小,2651A型提供了高速脉冲功能,使用户能够以高准确度源出和测量脉冲。脉宽从100μs至DC、占空比从1%至100%可编程。而竞争方案通常受限于仪器占空比编程灵活性。